西門(mén)子Sensation系列有兩種主要的探測(cè)器類型:10和16層,以及40和64層。兩者都使用專有的陶瓷基材料,它們也都是由42個(gè)模塊組成的,它們接收X射線并將其轉(zhuǎn)換為電子信號(hào),每個(gè)模塊有16個(gè)通道,任何一個(gè)通道損壞都會(huì)引起圖像偽影,這些通道的好與壞可通過(guò)檢測(cè)軟件進(jìn)行檢驗(yàn),進(jìn)入檢修程序Local Service下輸入密碼,選Tune up-expertmode-Defetive Channels(壞通道檢測(cè)),該程序執(zhí)行結(jié)束后每個(gè)通道的情況會(huì)顯示在校正表上,通道良好顯綠色,壞通道會(huì)顯紅色。對(duì)個(gè)別壞通道的處理方法為:可將壞通道換到探測(cè)器的邊緣,然后通過(guò)軟件補(bǔ)償從而得到較好的圖像,還可以封鎖該通道來(lái)排除偽影。另外,由于室溫、濕度等因素,這些探測(cè)器模塊將開(kāi)始降級(jí)并失效。以下是對(duì)檢測(cè)器模塊進(jìn)行故障排除和安裝替換件的一些建議。
如何確定問(wèn)題模塊?
任何一種探測(cè)器上的探測(cè)器模塊問(wèn)題通常在軸向(序列)圖像中顯示為環(huán)形或帶狀,或者在探測(cè)器中顯示為直線。將疑似問(wèn)題模塊與另一個(gè)模塊交換是一種相對(duì)較快的測(cè)試方法,如果偽影隨模塊移動(dòng),則應(yīng)更換模塊。
西門(mén)子Sensation探測(cè)器模塊
在圖像不良、偽影不明顯但又影響診斷的情況下,需進(jìn)一步做探測(cè)器測(cè)試DMS-Test,除球管外做射線靜態(tài)值測(cè)試(Offset Image),該測(cè)試是在機(jī)架不轉(zhuǎn)與機(jī)架旋轉(zhuǎn)2種情況下進(jìn)行,測(cè)出的圖像與參考圖作對(duì)比,探測(cè)器的好壞則一目了然。有一套完整的軟件可對(duì)探測(cè)器進(jìn)行檢測(cè),除Offset Image外,還有Popcom Noise、Offset Value、Signal Value、Sepectral Lin、Signal
Lin等功能檢測(cè)。通道錯(cuò)誤會(huì)引起環(huán)狀影,在不同位置通道誤差產(chǎn)生環(huán)狀偽影亮度也不同。
不同位置模塊引起的偽影
更換建議
當(dāng)1或2個(gè)模塊出現(xiàn)問(wèn)題時(shí),將它們移到倒數(shù)第二個(gè)檢測(cè)器插槽可以獲取可用的圖像,同時(shí)考慮更持久的解決方案。位置2和位置41是臨時(shí)安置失敗模塊的理想選擇。移動(dòng)模塊的權(quán)衡是需要為所有技術(shù)和切片寬度重新創(chuàng)建檢測(cè)器校準(zhǔn)表。一個(gè)需要幾個(gè)小時(shí)的過(guò)程。圖像質(zhì)量可能仍然不合格的可能性很小。但是,大多數(shù)情況下,可以安全地移動(dòng)1或2個(gè)錯(cuò)誤的模塊。
探測(cè)器模塊更換
對(duì)于10/16排探測(cè)器,建議是中心6個(gè)模塊一次性全部換出,因?yàn)樗鼈冊(cè)谛阅芎烷g距方面更加匹配。剩下的36個(gè)模塊可以互換,并可根據(jù)需要單獨(dú)更換。
對(duì)于40/64排探測(cè)器,建議將有故障的中心模塊向中心移動(dòng),并將替換件插入中心組的外邊緣。